徠卡偏光顯微鏡設(shè)計(jì)用于各種偏振光檢驗(yàn)：無(wú)論是用于巖相學(xué)、礦物學(xué)、結(jié)構(gòu)特性還是液晶檢驗(yàn)– 新型偏光顯微鏡都能滿足各種要求的理想選擇。
徠卡偏光顯微鏡將向您展現(xiàn)顯微鏡能有多簡(jiǎn)單、多可靠。方便的操作原理使您能改進(jìn)工作流程，把注意力*集中在手頭的工作上。
徠卡偏光顯微鏡不言而喻的優(yōu)點(diǎn)：
偏振對(duì)比度提高，能獲得更多的標(biāo)本信息
操作簡(jiǎn)單，能在透偏光及落射偏光下對(duì)標(biāo)本進(jìn)行的評(píng)估符合人機(jī)工效性操作原理，工作更輕松。
卡偏光顯微鏡可集成相機(jī)和軟件模塊，以便更迅速、更輕松地反復(fù)制作文檔配合各種各樣的選用設(shè)備，徠卡顯微系統(tǒng)有限公司的偏光顯微鏡同樣是工業(yè)應(yīng)用的理想伙伴。無(wú)論是用于分析玻璃、塑料、紡織品和纖維還是半導(dǎo)體行業(yè)的測(cè)試顯示，徠卡顯微鏡總是能保證zui、可靠的結(jié)果。
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