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簡要描述:VIEW Benchmark 450 高價值、高精度影像測量系統(tǒng) 擁有大氣測量外觀的非接觸式光學(xué)測量儀體現(xiàn)了VIEW的性能和風(fēng)范。其450 x 450 mm的大行程平臺,既適合測量大號的工件,也可一次批量測量多個小零件組。良好的光學(xué)、照明、可選配的TTL激光、以及圖像處理能力使Benchmark 450成為世界*的計量系統(tǒng)。
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VIEW Benchmark 450 高價值、高精度影像測量系統(tǒng) 擁有大氣測量外觀的VIEW Benchmark 450非接觸式光學(xué)測量儀體現(xiàn)了VIEW的性能和風(fēng)范。其450 x 450 mm的大行程平臺,既適合測量大號的工件,也可一次批量測量多個小零件組。良好的光學(xué)、照明、可選配的TTL激光、以及圖像處理能力使Benchmark 450成為世界*的計量系統(tǒng)。 可選的軟件包增強系統(tǒng)的通用性: CAD 導(dǎo)入(DXF/IGES) 軟件 形狀擬合和分析軟件 離線編程軟件 QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —實時分析和報告軟件 Elements™ CAD To Measure測量軟件。
特征:
測量范圍:450 x 450 x 200 mm
65公斤承載力
亞微米的光柵尺分辨率
平臺移動速度X-Y: 150 mm/秒; Z: 100 mm/秒
誤差映射:在XY平面非線性二維糾錯
超精密雙重放大光學(xué)系統(tǒng)
可編程多色環(huán)形燈(PRL)選項
TTL激光選項,具有自動聚焦和掃描功能
良好的圖像處理性能,快速、精確、穩(wěn)健
雙通道,數(shù)字式,1.4兆像素的單色相機(jī); 4:1的比例
次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
強大的測量軟件和數(shù)據(jù)分析工具可供選擇
平均*工作時間 MTBF ≥ 8,000 小時
Benchmark的應(yīng)用范圍包括:
SMT/電子元氣件
PCB板和Stencil
SMT元件貼裝
錫膏/環(huán)氧數(shù)脂膠點
芯片載體和托盒
噴墨打印機(jī)墨盒
引線框,引線接合,柔性線路板,連接器
光纖組件和MEMs
數(shù)據(jù)存儲
Wafer carriers and row bar pallets
滑塊和懸臂組(HGA)
懸置件
精密注塑和機(jī)加工件
模具和刀具
醫(yī)療設(shè)備
燃料噴射部件
手表組件
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