太陽能電池組件綜合缺陷紅外檢測

簡要描述：對太陽能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度，缺陷處因具有較低的少子擴散長度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

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廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2023-02-23
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紅外顯微鏡

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詳細介紹

缺陷檢測原理

電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度：
對太陽能電池/組件加載電壓后，使之發(fā)光，再利用近紅外相機攝取其發(fā)光
影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度，缺陷處因具有較低的少子擴散
長度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

有效定位缺陷類型：
通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過程存在的問題，方便進行分析以及問題的解決，對提高產(chǎn)品質(zhì)量
和產(chǎn)品效率，改善工藝和穩(wěn)定產(chǎn)量起到了的幫助作用。

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