當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 紅外顯微鏡 > Wafer HgCdTe HgCdTe缺陷無損紅外檢測
簡要描述:硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測
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